一种用于Memory VRTT动态响应测试的上位机系统及...
授权
摘要
本申请公开了一种用于Memory VRTT动态响应测试的上位机系统及其工作方法，该上位机系统包括：上位机、待测板卡、逻辑开关接线模块、数字万用表、示波器、VRTT Tool和数据处理模块。待测板卡、逻辑开关接线模块、数字万用表和示波器构成自校正实现区，待测板卡、示波器和VRTT Tool构成数据采集区，数据处理模块构成数据处理区。该方法包括：搭建测试环境；按照Memory VRTT标准进行上电；进行探棒自校正和探棒精度自校正；启动初始测试；判断初始测试结果是否符合SPEC标准；如果是，利用数据处理模块生成测试报告；否则进行调试；调试完毕重新进行探棒自校正和探棒精度自校正，直到获取测试报告；按照Memory VRTT标准下电。通过本申请，能有效提高测试效率和测试结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种用于Memory VRTT动态响应测试的上位机系统及其工作方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112904254A
申请号 ：
CN202110087087.0
公开（公告）日 ：
2021-06-04
申请日 ：
2021-01-22
授权号 ：
CN112904254B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
朱致远潘喜光
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
济南诚智商标专利事务所有限公司
代理人 ：
王申雨
优先权 ：
CN202110087087.0
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2021-08-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20210122
申请日 : 20210122
2021-06-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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