代森铵的分析方法
公开
摘要

本发明涉及代森铵的分析方法。本发明提供一种使用GC/MS直接分析残留于试样中的代森铵的方法。提供了一种代森铵的分析方法,该方法使用气相色谱质谱仪分析残留于试样中的代森铵,其中包括使用碳原子数1‑3的醇作为萃取溶剂从试样中萃取代森铵。

基本信息
专利标题 :
代森铵的分析方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114594175A
申请号 :
CN202110177860.2
公开(公告)日 :
2022-06-07
申请日 :
2021-02-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
相马学工藤美奈子清野淳也筑馆一晃
申请人 :
株式会社津村
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 :
高瑜
优先权 :
CN202110177860.2
主分类号 :
G01N30/02
IPC分类号 :
G01N30/02  G01N30/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象,或者利用离子交换,例如色谱法将材料分离成各个组分,来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
法律状态
2022-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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