代森铵的分析方法
公开
摘要
本发明涉及代森铵的分析方法。本发明提供一种使用GC/MS直接分析残留于试样中的代森铵的方法。提供了一种代森铵的分析方法，该方法使用气相色谱质谱仪分析残留于试样中的代森铵，其中包括使用碳原子数1‑3的醇作为萃取溶剂从试样中萃取代森铵。
基本信息
专利标题 ：
代森铵的分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594175A
申请号 ：
CN202110177860.2
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2021-02-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
相马学工藤美奈子清野淳也筑馆一晃
申请人 ：
株式会社津村
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
高瑜
优先权 ：
CN202110177860.2
主分类号 ：
G01N30/02
IPC分类号 ：
G01N30/02 G01N30/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
