用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径

授权

摘要

本申请案涉及用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径。接收命令执行数据。所述命令执行数据包括对应于功能组件的块地址、对应于所述功能组件的可测试性设计DFT寄存器的寄存器识别符，和命令数据。将所述命令执行数据转换为串行命令。将所述串行命令提交到所述功能组件的所述DFT寄存器。接收对所述串行命令的响应。所述响应是由所述功能组件基于所述串行命令产生。将所述响应转换为命令响应数据，且提供到测试子系统。

基本信息

专利标题：

用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113326216A

申请号：

CN202110219279.2

公开（公告）日：

2021-08-31

申请日：

2021-02-26

授权号：

CN113326216B

授权日：

2022-06-07

发明人：

M·R·斯皮卡

申请人：

美光科技公司

申请人地址：

美国爱达荷州

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司

代理人：

王艳娇

优先权：

CN202110219279.2

主分类号：

G06F13/16

IPC分类号：

G06F13/16 G06F13/42 G11C29/56