一种基于吸收光谱温度检测的高温标校系统
授权
摘要

本发明涉及一种基于吸收光谱温度检测的高温标校系统,属于光谱检测及高温测量领域;包括控制器、激光器、分束器、高温标校管、管式高温炉、第一探测器、第二探测器和2个筛状挡板;高温标校管沿轴向穿过管式高温炉,且高温标校管的轴向两端伸出管式高温炉;第一探测器与高温标校管的一端连接;第二探测器与高温标校管的另一端连接;2个筛状挡板设置在高温标校管的内腔中,将高温标校管的内腔分为三段;本发明实现了几乎全光谱波段的测量测试,同时在选择筛状挡板材料时无需考虑材料的光学特性,使选用耐受温度更高的材料成为可能,有利于实现超高温的温度校准测试。

基本信息
专利标题 :
一种基于吸收光谱温度检测的高温标校系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113108917A
申请号 :
CN202110287180.6
公开(公告)日 :
2021-07-13
申请日 :
2021-03-17
授权号 :
CN113108917B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
高慧王学锋姜萌杨勇姚树智张蒙
申请人 :
北京航天控制仪器研究所
申请人地址 :
北京市海淀区北京142信箱403分箱
代理机构 :
中国航天科技专利中心
代理人 :
李晶尧
优先权 :
CN202110287180.6
主分类号 :
G01J5/00
IPC分类号 :
G01J5/00  G01J5/58  G01J3/02  G01J3/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2022-04-08 :
授权
2021-07-30 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/00
申请日 : 20210317
2021-07-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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