一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法
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摘要
本发明公开了一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法，通过研究待测频率余数的特点，总结了重频、待测频率最大值、接收机测量误差和系统错误率之间的关系，并设计了频率计算程序。本发明的算法对欠采样重频差的大小具有普适性，不仅可以应用于实验室精确控制的小重频差的情况，还可以应用于定频光源重频差较大的情况，对于实现野外电场快速测量具有重要意义。
基本信息
专利标题 ：
一种基于余数匹配的光学欠采样频率恢复方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113138313A
申请号 ：
CN202110294565.5
公开（公告）日 ：
2021-07-20
申请日 ：
2021-03-19
授权号 ：
CN113138313B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
谢树果杨燕王天恒田雨墨王铁凝
申请人 ：
北京航空航天大学
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路37号
代理机构 ：
北京航智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄川
优先权 ：
CN202110294565.5
主分类号 ：
G01R29/12
IPC分类号 ：
G01R29/12 G01R23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/12
静电场的测量
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2021-08-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/12
申请日 : 20210319
申请日 : 20210319
2021-07-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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