预测难以修复的设计规则检查违规的方法与系统
公开
摘要
一种预测难以修复的设计规则检查违规的方法与系统，预测难以修复的设计规则检查违规的方法包括：通过多个电子电路置放布局训练一机器学习模型；由该机器学习模型预测一新电子电路置放布局的设计规则检查(DRC)违规的修复率；基于该新电子电路置放布局的这些DRC违规的这些修复率识别这些DRC违规当中的难以修复(HTF)的DRC违规；及由一工程改变命令(ECO)工具修复这些DRC违规。
基本信息
专利标题 ：
预测难以修复的设计规则检查违规的方法与系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114444434A
申请号 ：
CN202110340895.3
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2021-03-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
许静林士尧庄易霖
申请人 ：
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
代理机构 ：
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐金国
优先权 ：
CN202110340895.3
主分类号 ：
G06F30/398
IPC分类号 ：
G06F30/398 G06N20/00 G06F115/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/398
设计验证或优化，例如：使用设计规则检查、布局与原理图或有限元方法
法律状态
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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