一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置及方法
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摘要
本发明公开了一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置及方法，属于光纤链路测试技术领域。本发明由激光源、声光移频器、编码信号发生器、环形器、偏振控制器、光电探测器、时频分析模块、分束器、合束器组成。本发明方法用编码信号发生器产生频率编码的射频信号驱动声光移频器，通过声光移频器对激光源进行编码产生波长编码的光信号，经过分束器分为探测光信号和参考光信号分别输入环形器和合束器，探测光信号进入被测光纤中遇到断点后产生反射光信号从环形器经过偏振控制器输入合束器，与参考光信号进入光电探测器拍频，拍频信号进入时频分析模块进行分析处理。相比现有技术，本发明提高了波长调谐速率和波长调谐稳定度，能够实现更窄的脉冲和更窄的拍频信号线宽。
基本信息
专利标题 ：
一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113114350A
申请号 ：
CN202110365976.9
公开（公告）日 ：
2021-07-13
申请日 ：
2021-03-30
授权号 ：
CN113114350B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
张尚剑邢贯苏徐映刘永
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202110365976.9
主分类号 ：
H04B10/071
IPC分类号 ：
H04B10/071
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2021-07-30 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/071
申请日 : 20210330
申请日 : 20210330
2021-07-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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