光纤时域反射仪OTDR、测试系统、测试方法及存储介质
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摘要
本发明提供了一种光纤时域反射仪OTDR、测试系统、测试方法及存储介质；包括：输入端，用于接收输入的业务光信号；第一滤波器，与输入端相连，用于过滤业务光信号中波长等于OTDR的测试波长的干扰信号；波分复用WDM器，具有反射端、透射端及输出端；OTDR基本单元，与透射端连接，用于发射等于测试波长的OTDR信号，并接收OTDR信号的返回信号；WDM器的输出端，用于输出从反射端接收的过滤后的业务光信号，并输出从透射端接收的OTDR信号，并接收从光纤返回的返回信号。
基本信息
专利标题 ：
光纤时域反射仪OTDR、测试系统、测试方法及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112054839A
申请号 ：
CN202010803061.7
公开（公告）日 ：
2020-12-08
申请日 ：
2020-08-11
授权号 ：
CN112054839B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
张翠红张建涛叶知隽熊涛
申请人 ：
武汉光迅科技股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区邮科院路88号
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
张李静
优先权 ：
CN202010803061.7
主分类号 ：
H04B10/071
IPC分类号 ：
H04B10/071 H04B10/25 H04B10/2575
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法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-12-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/071
申请日 : 20200811
申请日 : 20200811
2020-12-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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