一种热型红外探测器性能测试方法
授权
摘要
本发明涉及热型红外探测器的测试技术领域，具体公开了一种热型红外探测器性能测试方法，其中，包括：将热型红外探测器置于环境温度为的真空环境中；以恒流源偏置电流为探测器施加时长为的自热功率，记录热型红外探测器达到热平衡时的输出电压变化量；根据输出电压变化量‑表面温度函数关系计算热型红外探测器的表面温度，根据自热功率‑热导函数关系计算热型红外探测器的热导值；建立热导‑表面温度函数关系；获得热型红外探测器的发射率，根据发射率获得红外吸收率；获取热型红外探测器的噪声；根据等效温差‑噪声‑红外吸收率的函数关系，测得噪声等效温差。本发明提供的热型红外探测器性能测试方法测试简单且利用纯电学激励进行性能自测试。
基本信息
专利标题 ：
一种热型红外探测器性能测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113091918A
申请号 ：
CN202110372282.8
公开（公告）日 ：
2021-07-09
申请日 ：
2021-04-07
授权号 ：
CN113091918B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
侯影傅剑宇刘超陈大鹏
申请人 ：
无锡物联网创新中心有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园E2座112
代理机构 ：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
殷红梅
优先权 ：
CN202110372282.8
主分类号 ：
G01J5/20
IPC分类号 ：
G01J5/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/20
用对辐射敏感的电阻器，热敏电阻器或半导体
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2021-07-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/20
申请日 : 20210407
申请日 : 20210407
2021-07-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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