雷达探测器性能测试装置及其方法

授权

摘要

本申请涉及一种雷达探测器性能测试装置及其方法。所述装置包括：数字编码超表面，用于模拟不同特性的探测目标，编码控制模块，与数字编码超表面连接，用于根据预设的探测目标的特性，生成编码控制指令，编码控制指令用于控制数字编码超表面调控接收的待检测雷达发射的雷达信号，得到对应特性的探测目标，终端，与编码控制模块连接，用于根据接收输入的调控指令，并将调控指令发送至编码控制模块，以使编码控制模块根据调控指令生成编码控制指令。本装置降低了测试设备的复杂程度和制造成本。

基本信息

专利标题：

雷达探测器性能测试装置及其方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111580054A

申请号：

CN202010481823.6

公开（公告）日：

2020-08-25

申请日：

2020-05-28

授权号：

CN111580054B

授权日：

2022-05-24

发明人：

胥文泉邱兆坤孙伟柴进尹清清徐先武唐石画胡芬

申请人：

湖南赛博诺格电子科技有限公司

申请人地址：

湖南省长沙市长沙高新开发区尖山路39号长沙中电软件园一期6栋402室

代理机构：

长沙国科天河知识产权代理有限公司

代理人：

董惠文

优先权：

CN202010481823.6

主分类号：

G01S7/40

IPC分类号：

G01S7/40