不等壁厚锥形环锻件晶粒组织超声自动检测方法及系统
授权
摘要
本发明公开了一种不等壁厚锥形环锻件晶粒组织超声自动检测方法,包括以下步骤:根据不等壁厚锥形环锻件截面形状尺寸,将不等壁厚锥形环锻件划分为等壁厚检测区域和不等壁厚检测区域;将不等壁厚锥形环锻件置于超声耦合剂中,超声探头垂直入射等壁厚检测区域的表面进行晶粒组织检测;根据不等壁厚检测区域的上下表面倾斜角度,计算超声探头入射角度,使超声波垂直不等壁厚检测区域的底面入射和反射;根据底面反射回波幅值与晶粒组织的对应关系,绘制环锻件各位置底面回波幅值B扫图,标记底波幅值损失严重区域,并检测出不等壁厚锥形环锻件晶粒尺寸粗大和分布不均匀区域。
基本信息
专利标题 :
不等壁厚锥形环锻件晶粒组织超声自动检测方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113125562A
申请号 :
CN202110386652.3
公开(公告)日 :
2021-07-16
申请日 :
2021-04-12
授权号 :
CN113125562B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
华林关山月汪小凯戴殊同李一轩
申请人 :
武汉理工大学
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
代理机构 :
湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人 :
许美红
优先权 :
CN202110386652.3
主分类号 :
G01N29/06
IPC分类号 :
G01N29/06 G01N29/11 G01N29/12 G01N29/265 G01N29/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料;靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
G01N29/06
内部的显像,例如,声显微技术
法律状态
2022-06-03 :
授权
2021-08-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/06
申请日 : 20210412
申请日 : 20210412
2021-07-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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