一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法
授权
摘要

本发明公开了一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法,所述测试装置包括:待测器件模块,用于为待测器件提供外部的偏置电压,引入待测器件需要关注的噪声信号并输出;第一路噪声测试通路,用于将所述待测器件模块输出的第一路小信号噪声放大和数字化采样以得到第一路数字噪声信号;第二路噪声测试通路,用于将所述待测器件模块输出的第二路小信号噪声放大和数字化采样以得到第二路数字噪声信号;频谱分析模块,用于根据采样后的两路数据,对每个通路分别计算各通道的噪声谱情况,然后再进行两个通路之间的相关性分析或进行噪声消除。

基本信息
专利标题 :
一种多通道相关的低频噪声测试装置及分析方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113189412A
申请号 :
CN202110494459.1
公开(公告)日 :
2021-07-30
申请日 :
2021-05-07
授权号 :
CN113189412B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
岳龙明志茂陆裕东刘远李汝冠江雪晨毛景雄
申请人 :
广州广电计量检测股份有限公司
申请人地址 :
广东省广州市天河区黄埔大道西平云路163号
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
颜希文
优先权 :
CN202110494459.1
主分类号 :
G01R29/26
IPC分类号 :
G01R29/26  G01R23/177  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/26
噪声值的测量;信噪比的测量
法律状态
2022-05-03 :
授权
2021-08-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/26
申请日 : 20210507
2021-07-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332