一种自适应高并发拓扑测量系统
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摘要
一种自适应高并发拓扑测量系统，涉及网络拓扑测量技术领域，用以解决现有网络拓扑测量系统测量时间长、效率低下或重复发包的冗余探测问题。本发明的技术要点包括：该测量系统包括任务生成模块、探测模块、发包引擎模块和任务结果处理模块；其中，探测模块用于集成探测方法生成IP目标测量信息，并根据IP目标测量信息生成一跳测量信息；所述探测方法包括为降低网络拓扑测量发包量的自适应方法和实现同时执行多个探测任务的轮询高并发方法；进一步地，提出存储结构粒度区分算法对系统中的任务测量信息、IP目标测量信息和一跳测量信息进行存储。本发明有效提升了测量速度，有效减少了目标探测的包数。本发明可应用于快速网络拓扑测量中。
基本信息
专利标题 ：
一种自适应高并发拓扑测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113381912A
申请号 ：
CN202110654790.5
公开（公告）日 ：
2021-09-10
申请日 ：
2021-06-11
授权号 ：
CN113381912B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
张宇余卓勋邱勇泽张宏莉方滨兴
申请人 ：
哈尔滨工业大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
代理机构 ：
黑龙江立超同创知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
杨立超
优先权 ：
CN202110654790.5
主分类号 ：
H04L12/26
IPC分类号 ：
H04L12/26
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2021-09-28 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04L 12/26
申请日 : 20210611
申请日 : 20210611
2021-09-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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