TDICMOS滚动行周期下成像效果评估方法

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摘要

TDICMOS滚动行周期下成像效果评估方法，涉及TDICMOS成像效果评估技术领域，首先根据不同行周期下得到的电荷转移信号跳变沿位置，统计出各驱动信号的高电平起始和结束位置及在一个行周期内同一个驱动信号出现上升沿或下降沿的次数；然后逐个电荷转移信号进行上升和下降沿位置的比较，重新计算上升沿位置；接着计算每次电荷转移的质心位置等于上升和下降沿位置之和；计算出各步骤下的质心之间的间距；最后根据电荷转移的相数和对应行周期下的各质心的间距计算得到当前的动态传递函数值。本发明通过上升和下降沿的相对位置判断，可以方便进行质心位置的计算，避免冗余转换而出现的错误。

基本信息

专利标题：

TDICMOS滚动行周期下成像效果评估方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113452939A

申请号：

CN202110727790.3

公开（公告）日：

2021-09-28

申请日：

2021-06-29

授权号：

CN113452939B

授权日：

2022-05-10

发明人：

余达薛栋林薛旭成李国宁于善猛赵宇宸张择书

申请人：

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请人地址：

吉林省长春市东南湖大路3888号

代理机构：

长春众邦菁华知识产权代理有限公司

代理人：

朱红玲

优先权：

CN202110727790.3

主分类号：

H04N5/374

IPC分类号：

H04N5/374 H04N5/369