一种探针寿命预测方法、系统、装置和存储介质
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摘要
本说明书实施例提供一种探针寿命预测方法、系统、装置和存储介质，所述寿命预测方法包括：将基于待预测探针对受测对象的性能进行测试的数据与基于参照探针对相同受测对象的性能进行测试的数据进行比较，从待预测探针的各项性能指标中确定出与寿命相关的性能指标(记作相关性能指标)，获取相关性能指标对应的性能测试数据，基于相关性能指标对应的性能测试数据，预测待预测探针的寿命。
基本信息
专利标题 ：
一种探针寿命预测方法、系统、装置和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113408221A
申请号 ：
CN202110763723.7
公开（公告）日 ：
2021-09-17
申请日 ：
2021-07-06
授权号 ：
CN113408221B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
费保兴刘达沈峰
申请人 ：
太仓比泰科自动化设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市太仓市陆渡镇江南路
代理机构 ：
成都七星天知识产权代理有限公司
代理人 ：
袁春晓
优先权 ：
CN202110763723.7
主分类号 ：
G06F30/30
IPC分类号 ：
G06F30/30 G06K9/62 G06Q10/04 G06F115/12 G06F119/02 G06F119/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/30
电路设计
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2021-10-08 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/30
申请日 : 20210706
申请日 : 20210706
2021-09-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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