一种基于双自发自收相控阵探头的未知缺陷轮廓重建方法
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摘要

一种基于双自发自收相控阵探头的未知缺陷轮廓重建方法,其属于无损检测技术领域。该方法采用由相控阵超声检测仪、两个相控阵探头和匹配楔块构成的检测系统,从待检测区域两侧分别采集全矩阵信号;针对各重建点,从两组全矩阵信号中分别选取具有最大声程的全跨模式进行不同模式波的扩散校正;最后实施延时叠加处理,并复合两侧具有最强响应的模式波,从而实现未知缺陷的轮廓重建与定量检测。该方法可重建先验未知的体积型缺陷,以及规则和不规则面积型缺陷轮廓,缺陷特征辨识直观,且定量检测精度较高,具有较好的工程应用前景。

基本信息
专利标题 :
一种基于双自发自收相控阵探头的未知缺陷轮廓重建方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113552217A
申请号 :
CN202110803961.6
公开(公告)日 :
2021-10-26
申请日 :
2021-07-16
授权号 :
CN113552217B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
金士杰林莉刘晨飞罗忠兵
申请人 :
大连理工大学
申请人地址 :
辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
代理机构 :
大连理工大学专利中心
代理人 :
梅洪玉
优先权 :
CN202110803961.6
主分类号 :
G01N29/06
IPC分类号 :
G01N29/06  G01N29/24  G01N29/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料;靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
G01N29/06
内部的显像,例如,声显微技术
法律状态
2022-05-10 :
授权
2021-11-12 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/06
申请日 : 20210716
2021-10-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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