一种适用于复合绝缘子缺陷检测的相控阵探头结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种适用于复合绝缘子缺陷检测的相控阵探头结构，包括相控阵探头和安装在所述相控阵探头上的透声楔块，所述透声楔块与所述复合绝缘子的护套弧面匹配，所述透声楔块的宽度小于等于所述复合绝缘子的伞裙间距。该相控阵探头可以在不以水作为耦合介质的条件下，实现相控阵探头与复合绝缘子的良好耦合，并进而检测出复合绝缘子护套与芯棒的界面脱粘缺陷。
基本信息
专利标题 ：
一种适用于复合绝缘子缺陷检测的相控阵探头结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021617377.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-06
授权号 ：
CN212693683U
授权日 ：
2021-03-12
发明人 ：
李文波朱吉然万涛巢亚峰杨淼李金亮隆晨海
申请人 ：
国网湖南省电力有限公司;国网湖南省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市天心区新韶东路398号
代理机构 ：
长沙市融智专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
谢浪
优先权 ：
CN202021617377.9
主分类号 ：
G01N29/26
IPC分类号 ：
G01N29/26 G01N29/24 G01N29/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/22
零部件
G01N29/26
用于定位或扫描的结构
法律状态
2021-03-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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