垂测信息和高频地波雷达杂波信息的对应性分析方法

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摘要

本发明公开了一种垂测信息和高频地波雷达杂波信息的对应性分析方法，所述方法包括如下步骤：1)获取频高图信息和距离‑多普勒谱信息；2)对距离‑多普勒谱进行图像处理，得到只含有电离层杂波信息的距离‑多普勒谱；3)将频高图信息与图像处理后的距离‑多普勒谱分别进行数据提取，并在提取后进行归一化，得到分别由两设备信息所构成的数据向量；4)对3)得到的两数据向量，采用DTW算法进行数据比对分析，得出两数据间的最小距离或失真度，从而得到电离层垂测仪与高频地波雷达所提取的电离层信息的相关性。该方法可验证电离层垂测仪频高图中的电离层信息与高频地波雷达距离‑多普勒谱中的电离层杂波信息是否具有一定的相关性。

基本信息

专利标题：

垂测信息和高频地波雷达杂波信息的对应性分析方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113552563A

申请号：

CN202110805766.7

公开（公告）日：

2021-10-26

申请日：

2021-07-16

授权号：

CN113552563B

授权日：

2022-05-10

发明人：

康聂子芃杨强鉴福升罗军张鑫李佳明

申请人：

哈尔滨工业大学

申请人地址：

黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

代理机构：

哈尔滨龙科专利代理有限公司

代理人：

李智慧

优先权：

CN202110805766.7

主分类号：

G01S13/02

IPC分类号：

G01S13/02 G01S7/41