电子元件检查器具
实质审查的生效
摘要
电子元件检查器具(100)包含：基板(10)；棒状导体部件(30)，其具有用于与检查对象即电子元件(900)的导体(901)接触的一端(30a)。基板(10)的板面上的导体图案到达基板(10)的边缘(10h)，棒状导体部件(30)的另一端(30b)在基板(10)的边缘(10h)与导体图案电连接。棒状导体部件(30)的伸长方向与基板(10)的板面的法线方向正交。
基本信息
专利标题 ：
电子元件检查器具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114384344A
申请号 ：
CN202110812177.1
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-07-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
大坂纯士桥口彻
申请人 ：
日本航空电子工业株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
韩锋
优先权 ：
CN202110812177.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20210719
申请日 : 20210719
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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