一种用于电子元件的检查装置
授权
摘要

本实用新型属于电子元件检查装置技术领域,尤其为一种用于电子元件的检查装置,包括检测平台,所述检测平台的上表面安装有传输带,且所述检测平台的外壁固定有四组升降机构,四组所述升降机构的内部夹持有记录装置;所述传输带的上表面固定有元件定位机构,所述元件定位机构的上表面开设有两组滑轨;在传输带上设置元件定位机构对电子元件进行定位,元件定位机构随传输带位移方向前进,经过测试部下方进行电子元件的检测,适用于大批量电子元件的连续检测,且元件定位机构可适应不同规格的电子元件定位使用,使用范围广;记录装置和测试部配合升降机构使用,高度可调,适应不同规格电子元件的检测需求。

基本信息
专利标题 :
一种用于电子元件的检查装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921974446.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-15
授权号 :
CN211402448U
授权日 :
2020-09-01
发明人 :
陈小飞
申请人 :
成都欧联检测技术服务有限公司
申请人地址 :
四川省成都市武侯区聚龙路168号4-11号
代理机构 :
北京天奇智新知识产权代理有限公司
代理人 :
许驰
优先权 :
CN201921974446.9
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-09-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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