计测装置、计测方法、记录介质
公开
摘要
本发明提供了计测装置、计测方法以及记录介质，其正确地计测挖掘中的挖掘部的姿态。本发明的计测装置具有姿态估计部和相位校正量计算部。相位校正量计算部求出重力工具面和磁力工具面之间的偏移量，并设为估计偏移量。姿态估计部将基于加速度数据的重力工具面设为计测重力工具面，将基于磁场数据的磁力工具面设为计测磁力工具面，将计测重力工具面和计测磁力工具面之间的偏移量与估计偏移量的差异量设为相位校正量，将以相位校正量校正了磁场数据而得的数据设为校正后磁场数据，并求出基于加速度数据和校正后磁场数据的姿态。
基本信息
专利标题 ：
计测装置、计测方法、记录介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563034A
申请号 ：
CN202110895434.2
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2021-08-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
滨川圭太井上雄介高桥寻之山田孝纯
申请人 ：
日本航空电子工业株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
金兰
优先权 ：
CN202110895434.2
主分类号 ：
G01D21/02
IPC分类号 ：
G01D21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
G01D21/02
用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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