影像分析方法与影像分析系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种影像分析方法包括以下步骤:取得由电子显微镜提供的多层结构影像,并且透过显示装置显示多层结构影像,其中多层结构影像为灰阶影像;设定量测线段于多层结构影像上,其中量测线段朝第一方向延伸;沿着量测线段侦测多层结构影像在对应于量测线段上的灰阶分布;以及分析灰阶分布,以依据阈值范围来决定多层结构影像中的多个深色层厚度以及多个浅色层厚度。本发明的影像分析方法与影像分析系统可自动地量测多层结构影像的每一层的厚度。

基本信息
专利标题 :
影像分析方法与影像分析系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485411A
申请号 :
CN202111057652.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-09-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
钟侑原
申请人 :
邑流微测股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北市信义区松信路83号3楼(邮递区号110)
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
董婷婷
优先权 :
CN202111057652.5
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20210909
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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