显微镜系统和用于校准检验的方法
公开
摘要
一种显微镜系统包括用于拍摄样品位置环境的全景图像(11、12)的全景相机(9)和被设置用于评估全景图像(11、12)的计算设备(20)。计算设备(20)具有用于解释所述全景图像(11、12)的图像坐标的校准参数(P)。全景相机(9)在不同的样品位置或样品台位置下拍摄至少两个全景图像(11、12)。然后，计算用于叠加所述全景图像(11、12；21、22)的位移映射(31)，其中，借助于校准参数(P)将所述全景图像(11、12；21、22)转换为相同的视角。基于在叠加的全景图像(32)之间的一致性优度(Q)来评估是否所述校准参数(P)是有效的。此外描述了一种用于校准检验的方法。
基本信息
专利标题 ：
显微镜系统和用于校准检验的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114326078A
申请号 ：
CN202111129866.9
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-09-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曼努埃尔·阿姆托尔丹尼尔·哈泽
申请人 ：
卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请人地址 ：
德国耶拿
代理机构 ：
上海雍灏知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
沈汶波
优先权 ：
CN202111129866.9
主分类号 ：
G02B21/36
IPC分类号 ：
G02B21/36 G06T7/80 G06T7/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
G02B21/36
照相或投影用的布置
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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