用于高分辨率和宽幅光谱仪的技术
公开
摘要
本公开的实施例涉及一种用于高分辨率和宽幅光谱仪的技术。在说明性实施例中，倒像切片器将线性视场转换为网格形状，允许傅立叶变换光谱仪的干涉仪在窄视场范围内操作，从而提高光谱仪的平均光谱分辨率。
基本信息
专利标题 ：
用于高分辨率和宽幅光谱仪的技术
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114353943A
申请号 ：
CN202111189745.3
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-10-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
弗洛伦特·M·普莱尔弗雷德里克·J·格兰蒙特路易斯·M·莫雷奥埃里克·A·卡本尼奥马丁·C·拉鲁什
申请人 ：
ABB瑞士股份有限公司
申请人地址 ：
瑞士巴登
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
李辉
优先权 ：
CN202111189745.3
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02 G01J3/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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