恒偏向高分辨率变束棱镜光谱仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是在变束棱镜分光系统中，采用了一种转向变束棱镜(两种型式)，因而使这种分光系统不仅有很高的分辨率，而且其出射光与入射光方向之间有恒定的偏转角，是一种具有多方面优点的分光系统。预见有可能取代目前使用的传统的三棱镜或它的变形棱镜所组成的分光系统，并可与光栅分光系统相媲美。
基本信息
专利标题 ：
恒偏向高分辨率变束棱镜光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86101835A
申请号 ：
CN86101835.4
公开（公告）日 ：
1987-01-31
申请日 ：
1986-03-25
授权号 ：
CN1003140B
授权日 ：
1989-01-25
发明人 ：
张国威
申请人 ：
北京工业学院
申请人地址 ：
北京市海淀区西郊白石桥路七号
代理机构 ：
北京工业学院专利代理事务所
代理人 ：
秦月贞
优先权 ：
CN86101835.4
主分类号 ：
G01J3/14
IPC分类号 ：
G01J3/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/12
光谱的产生；单色器
G01J3/14
利用折射元件；例如，棱镜
法律状态
1993-07-21 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-10-18 ：
授权
1989-01-25 ：
审定
1987-01-31 ：
公开
1986-09-10 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
