电子设备的自诊断装置
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种电子设备的自诊断装置，其包括：向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、与根据测试功能代码的功能测试相对应的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、与根据DFT测试代码的DFT测试相对应的DFT测试期望值、以及用于DUT的一般算术运算或运算的非测试功能代码；测试数据存储器，其被配置为存储测试数据；以及安全区域测试控制器，其被配置为选择测试模式，控制施加到DUT的测试信号的环境变量并测试DUT，将功能测试期望值与测试功能代码结果值进行比较，并将DFT测试期望值与DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。
基本信息
专利标题 ：
电子设备的自诊断装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114509617A
申请号 ：
CN202111198386.8
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2021-10-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金秉奎金秉润
申请人 ：
普适福了有限公司
申请人地址 ：
韩国首尔特别市
代理机构 ：
北京银龙知识产权代理有限公司
代理人 ：
龚伟
优先权 ：
CN202111198386.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/52 G01K13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211014
申请日 : 20211014
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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