本申请涉及用于检测击键的设备、键盘和用于检测击键的方法。检测击键的设备包括电路基板、有键帽和运动机构的键模块及检测键帽运动的装置，装置包括含初级线圈的电谐振电路和与键帽一起运动的有短接匝的次级线圈，次级线圈是次级线圈元件、含传导性材料或由传导性材料组成，次级线圈元件有贯通凹口，围成凹口的传导性材料是次级线圈的短接匝，初级和次级线圈相互感应耦合且在键帽运动时，初级和次级线圈间的感应耦合强度及谐振电路的至少一个物理量变化，所述装置包括测量装置，用于检测和/或处理在键帽运动时变化的电谐振电路的至少一个物理量且输出与物理量变化相关的至少一个电信号。本发明还涉及带此类设备的键盘和检测击键的方法。