检测键模块击键的装置、键盘及检测键模块击键的方法
公开
摘要
本申请涉及用于检测键模块击键的装置、键盘及检测键模块击键的方法。用于检测键盘击键的装置(10)包括键模块(11)、电路基板(15)、布置在电路基板(15)之上或当中的平面线圈(13)及至少一个阻尼元件(14)，至少一个阻尼元件(14)在息止位置(27)和致动位置(29)间可运动地被布置在键模块(11)中以衰减平面线圈(13)，其中阻尼元件(14)在朝向致动位置(29)方向运动时执行第一致动运动(28a)且在朝向息止位置(27)方向运动时执行第二致动运动(28b)，并且装置(10)在执行第一致动运动(28a)和/或第二致动运动(28b)时输出至少一个电信号。本发明还涉及带一个或更多个这种装置的键盘及用这种装置检测键模块击键的方法。
基本信息
专利标题 ：
检测键模块击键的装置、键盘及检测键模块击键的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114371394A
申请号 ：
CN202111205210.0
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2021-10-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
爱德华·鲁夫
申请人 ：
柴瑞欧洲有限公司
申请人地址 ：
德国奥尔巴赫
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
崔丽娟
优先权 ：
CN202111205210.0
主分类号 ：
G01R31/327
IPC分类号 ：
G01R31/327 H01H13/705
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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