波形处理辅助装置以及波形处理辅助方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种波形处理辅助装置以及波形处理辅助方法，能够容易地决定具有高鲁棒性且可获得适当的波形处理结果的波形处理参数的值。波形处理辅助装置包括：获取部，对于基于波形处理参数的多个值而从一个或多个波形数据中分离出的多个波峰，获取波形处理参数的多个值与多个波形处理结果的对应关系来作为多个波峰分离信息；判定部，基于由获取部所获取的多个波峰分离信息来判定波形处理参数的各值的鲁棒性；以及显示控制部，使由获取部所获取的多个波峰分离信息、以及表示由判定部所算出的波形处理参数的各值的鲁棒性的鲁棒性信息显示于显示部。
基本信息
专利标题 ：
波形处理辅助装置以及波形处理辅助方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460215A
申请号 ：
CN202111245065.9
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-10-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石川勇树小泽弘明吉田刚胜山祐治柳沢年伸
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
薛恒
优先权 ：
CN202111245065.9
主分类号 ：
G01N30/86
IPC分类号 ：
G01N30/86
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/86
信号分析
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 30/86
申请日 : 20211026
申请日 : 20211026
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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