半导体存储器件
公开
摘要
提供一种具有改善的电特性的半导体存储器件。该半导体存储器件包括：第一半导体图案，其在第一方向上与衬底分离；第一栅极结构，其在第一方向上延伸并穿透第一半导体图案；第一导电连接线，其连接至第一半导体图案并在不同于第一方向的第二方向上延伸；以及第二导电连接线，其连接至第一半导体图案。第一栅极结构位于第一导电连接线和第二导电连接线之间，第一栅极结构包括第一栅电极和第一栅极绝缘膜，且第一栅极绝缘膜包括与第一半导体图案接触的第一电荷保持膜。
基本信息
专利标题 ：
半导体存储器件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114446990A
申请号 ：
CN202111276609.8
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李炅奂金容锡金一权金炫哲徐亨源柳成原弘载昊
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵南
优先权 ：
CN202111276609.8
主分类号 ：
H01L27/11578
IPC分类号 ：
H01L27/11578 H01L27/11568
法律状态
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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