用于线性测量的光学标尺或磁性标尺
公开
摘要
本发明提供一种用于线性测量的光学标尺或磁性标尺。光学标尺或磁性标尺(实际上是用于大长度线性测量的模块化标尺)为如下类型的光学标尺或磁性标尺：光学标尺或磁性标尺包括：尺架(P)、单个钢带(2)以及读取滑块(R)，尺架(P)由一个或更多个模块组成，一个或更多个模块在工具机上相互组装和对准，单个钢带(2)承载标尺光栅并容纳在设置在尺架(P)内的连续凹槽中，读取滑块(R)在尺架(P)内滑动以执行标尺光栅或磁性带的读取。钢带(2)通过钢带(2)的承载标尺光栅的表面并通过钢带(2)的其整个长度上没有机械约束的引导边缘形成读取滑块(R)的唯一滑动引导件。
基本信息
专利标题 ：
用于线性测量的光学标尺或磁性标尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114459358A
申请号 ：
CN202111304218.2
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-11-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
M·格拉西P·格拉M·维根蒂尼
申请人 ：
绩伟测量
申请人地址 ：
意大利米兰
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
党晓林
优先权 ：
CN202111304218.2
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G01B7/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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