非线性测量方法和非线性测量装置
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摘要
本发明涉及一种用于测量待测量光纤的光学非线性的方法和装置，该待测量光纤设置有具有相互耦合的波导模式的多个芯部。该方法至少包括：准备步骤，布置发射激光的激光源以及获得光强的检测单元；光发射步骤，使激光入射到待测量光纤的特定芯部上；光检测步骤，从待测量光纤的反射光分量中获得生成为光学非线性的结果的特定波长分量的强度；以及分析步骤，基于特定波长分量的强度来获得待测量光纤的光学非线性。
基本信息
专利标题 ：
非线性测量方法和非线性测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110582694A
申请号 ：
CN201880029186.X
公开（公告）日 ：
2019-12-17
申请日 ：
2018-05-11
授权号 ：
CN110582694B
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
长谷川健美林哲也
申请人 ：
住友电气工业株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府
代理机构 ：
北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
顾红霞
优先权 ：
CN201880029186.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-06 ：
授权
2020-01-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20180511
申请日 : 20180511
2019-12-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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