用于高速输入/输出容限测试的系统、方法和设备
公开
摘要
公开了用于高速输入/输出容限测试的系统、方法和设备。用于高速I/O容限测试的系统、设备和方法可以筛选高批量预生产和生产部件并且标识其中电气特性已经改变得足够多以至于影响操作的情况。所公开的容限测试器与传统的BERT和示波器相比成本更低、更易于使用并且更快速，并且可以在具有满负载和串扰的完整多通道I/O链路的标准操作状态下在完整多通道I/O链路上操作。容限测试器同时评估与受测试设备的操作多通道高速I/O链路在的任一方向或两个方向上的电接收器容限。在特定技术的形式中，容限测试器的实施例可以被实现为插入卡容限测试器以测试受测试主板的主板插槽，或者被实现为具有插槽的主板以测试插入卡。
基本信息
专利标题 ：
用于高速输入/输出容限测试的系统、方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460434A
申请号 ：
CN202111319437.8
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-11-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
S·J·斯特里克林D·S·弗雷利希M·L·鲍德温J·辛陈霖永
申请人 ：
特克特朗尼克公司
申请人地址 ：
美国俄勒冈州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
刘书航
优先权 ：
CN202111319437.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G05B19/042
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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