传感器系统以及传感器系统的故障探测方法
实质审查的生效
摘要

提供能够探测DA转换器的故障的传感器系统及传感器系统的故障探测方法。传感器系统具备:传感器元件,其被输入控制电流;DA转换器,其输出该控制电流;以及控制部,其生成控制电流指示值并将其输入到DAC,还具备:指示值生成部,其按生成周期按顺序生成向DAC输入的代替控制电流指示值的检查电流指示值;检查电流探测部,其探测检查电流的检查电流值;预计值计算部,其计算检查电流值的预计值即检查电流预计值;差值获取部,其获取检查电流值与检查电流预计值的差值;以及故障探测部,其通过对差值随时间的变化进行频率解析来探测DA转换器中的属于低位位组的位。

基本信息
专利标题 :
传感器系统以及传感器系统的故障探测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509619A
申请号 :
CN202111364289.1
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2021-11-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
池田哲嗣谷理范樋口雄三阿部悟
申请人 :
本田技研工业株式会社;日本特殊陶业株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘新宇
优先权 :
CN202111364289.1
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R19/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211117
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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