本申请涉及芯片测试技术领域，具体提供了开关机出错侦测系统、方法及控制终端、装置，其中，系统包括：控制终端，与所述待测芯片电性连接，用于获取所述待测芯片的错误信息，并根据所述错误信息生成第一控制信息；微控制器，与所述控制终端电性连接，用于获取所述第一控制信息，并根据所述第一控制信息生成触发信息；逻辑分析仪，与所述微控制器和所述待测芯片电性连接，用于获取所述触发信息，根据所述触发信息触发获取所述待测芯片产生所述错误信息时的瞬间异常时序；该开关机出错侦测系统不仅能够准确抓到待测芯片产生错误信息时的瞬间异常时序，还不需要修改待测芯片中的主控端程序，提高了开关机出错侦测系统的通用性。