一种时钟频率测试方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明涉及芯片技术领域，具体公开了一种时钟频率测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括以下步骤：设置线性变化的系统时钟频率Fsys，系统时钟频率Fsys满足：Fsys=Fs*(PLLn/(PLLm*PLLp))；设置QSPI时钟频率Freq，QSPI时钟频率Freq满足：Freq=Fsys/div；根据线性变化的系统时钟频率Fsys调节div的大小以获取不同变化范围的QSPI时钟频率Freq；根据不同变化范围的QSPI时钟频率Freq测试获取所述SPI FLASH数据读取的时钟频率；该方法通过调节div获取不同变化范围Freq，实现Freq的全频率覆盖，以精确地获取SPI FLASH数据读取的时钟频率。
基本信息
专利标题 ：
一种时钟频率测试方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114281612A
申请号 ：
CN202111388281.9
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-11-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙兆兴林晓新
申请人 ：
成都博尔微晶科技有限公司;芯天下技术股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市自由贸易试验区成都高新区天府大道中段666号2栋8楼802号
代理机构 ：
佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈志超
优先权 ：
CN202111388281.9
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20211122
申请日 : 20211122
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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