利用红外碳硫分析仪测定二氧化锡中硫含量的方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及硫含量检测,公开了一种利用红外碳硫分析仪测定二氧化锡中硫含量的方法,该方法包括以下步骤:S10:烘干待测二氧化锡样品;S20:使用红外碳硫分析仪检测标准样的红外光谱强度值,建立红外光谱强度值与硫含量之间的标准曲线;S30:使用红外碳硫分析仪预检测二氧化锡样品,得到二氧化锡样品的红外光谱强度值,并对照标准曲线得到二氧化锡样品硫含量的预检测值;S40:使用红外碳硫分析仪检测与预检测值相差小于20%的标准样,并以此校正标准曲线;S50:使用红外碳硫分析仪检测待测二氧化锡样品的红外光谱强度值,对照校正标准曲线得到待测二氧化锡样品中的硫含量。本发明的测定方法操作方便,检测结果准确,可信度高。

基本信息
专利标题 :
利用红外碳硫分析仪测定二氧化锡中硫含量的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324230A
申请号 :
CN202111394805.5
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-11-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李青李赫然冯磊孔秀梅魏文生沈利芳程超陶金秀
申请人 :
芜湖东旭光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司;北京远大信达科技有限公司
申请人地址 :
安徽省芜湖市经济技术开发区万春街道纬二次路36号
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
张慧汝
优先权 :
CN202111394805.5
主分类号 :
G01N21/3563
IPC分类号 :
G01N21/3563  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3563
用于分析固体,及其样品制备
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/3563
申请日 : 20211123
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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