验证方法、装置及电子设备
实质审查的生效
摘要
本申请实施例提供一种验证方法、装置及电子设备。其中,该方法应用于系统级芯片,该方法包括执行待验证模块对应的测试用例,以对待验证模块进行验证,其中,测试用例基于第一程序语言编写而成;利用目标程序语言将验证过程中产生的基于第一程序语言的第一传递信息,编码为第一转换信息;将第一转换信息写入预设寄存器,以供验证平台从预设寄存器获取第一转换信息,并基于第一转换信息,生成基于第二程序语言的第二传递信息;从预设寄存器获取第二转换信息;结合第二转换信息对待验证模块进行下一步验证。本申请实施例提供的技术方案可以通过对第一传递信息和第二传递信息进行程序语言的同步,保证系统级芯片与验证平台的交互,提高芯片验证效率。
基本信息
专利标题 :
验证方法、装置及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114356680A
申请号 :
CN202111415961.5
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-11-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
索健王正
申请人 :
北京爱芯科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区中关村大街1号16层1605
代理机构 :
北京太合九思知识产权代理有限公司
代理人 :
刘戈
优先权 :
CN202111415961.5
主分类号 :
G06F11/26
IPC分类号 :
G06F11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/26
申请日 : 20211125
申请日 : 20211125
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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