验证方法、电子设备以及存储介质
公开
摘要
本公开提供一种验证方法、电子设备以及存储介质，该验证方法包括：提供多个芯片组，芯片组的互连模块包括物理层、链路层和网络层中至少之一；从多个芯片组中选择第一芯片组；从多个芯片组中选择第二芯片组，第二芯片组包括选择互连层且选择互连层为物理层和链路层的其中之一；从第一芯片组中至少一个互连模块中选择第一互连模块；选择第一互连模块的物理层和链路层的其中之一作为目标互连层；将第一互连模块和选择互连层互连，由此选择互连层提供验证通路，使得目标互连层传输验证激励或验证输出，以验证第一芯片组。该验证方法采用分层建模验证，可以降低验证平台规模，加快仿真速度。
基本信息
专利标题 ：
验证方法、电子设备以及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114595102A
申请号 ：
CN202210230179.4
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵雅
申请人 ：
海光信息技术股份有限公司
申请人地址 ：
天津市华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
彭久云
优先权 ：
CN202210230179.4
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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