本申请提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质，验证方法包括：从版图中被放弃的冲突区域中，筛选出第一冲突区域；第一冲突区域为被放弃的冲突区域中，与密度相关的冲突区域；在芯片投片后，对芯片测试中的测试数据进行扫描链诊断，得到缺陷点；将得到的缺陷点与第一冲突区域进行相交判断，得到各第一冲突区域相交的缺陷点的数量；将与各第一冲突区域相交的缺陷点的数量，与各第一冲突区域对应的缺陷风险阈值进行比较；确定缺陷点的数量大于缺陷风险阈值的第一冲突区域存在风险。这样，可以在一定程度上解决目前无法评估版图设计中被放弃的冲突区域对芯片实际流片的影响的问题。