测定系统、终端、测定器以及存储介质
公开
摘要
本发明提供一种测定系统、终端、测定器以及存储介质，能抑制可能对测定处理带来的影响。所述测定系统被配置为测定器与终端能进行通信。测定器具备：测定单元，执行用于对测定对象的物理量进行测定的测定处理；感测单元，感测测定处理的执行；以及发送许可单元，以感测单元感测到测定处理的执行为契机，许可向终端发送测定结果。终端具备：结果接收单元，接收来自测定器的测定结果；以及执行单元，基于接收到的测定结果，执行规定的处理。
基本信息
专利标题 ：
测定系统、终端、测定器以及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545245A
申请号 ：
CN202111419695.3
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2021-11-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
中村哲也
申请人 ：
日置电机株式会社
申请人地址 ：
日本长野县上田市
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
吕琳
优先权 ：
CN202111419695.3
主分类号 ：
G01R31/3842
IPC分类号 ：
G01R31/3842 G01R31/389 G01R31/396
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/3842
•••基于组合电压和电流的测量
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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