折射率测定器
驳回的专利申请
摘要
折射率测定器属中学物理实验中测定媒质折射率的专用工具。 根据折射率(n)等于物体真深(h)与视深(h′)之比的关系。测量中只要获得h、h′即可。至今的文献资料中未有方便、准确获得h、h′数据的方法和工具。现行中学物理教材甲、乙本中介绍的方法也因影像不清而无法读数。 本仪器采用定、动双尺。媒质内外分别观察，读数物、像用准丝水平对齐。可快、准读取h与h′的值。可测液体、固体折射率，用于演示和学生分组实验。
基本信息
专利标题 ：
折射率测定器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87103790A
申请号 ：
CN87103790.4
公开（公告）日 ：
1988-12-07
申请日 ：
1987-05-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吕柏华明星高
申请人 ：
吕柏华;明星高
申请人地址 ：
江西省大余县大余中学
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN87103790.4
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
1992-03-18 ：
驳回的专利申请
1989-09-06 ：
实质审查请求
1988-12-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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