一种绝对相位噪声标准产生方法和装置
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种绝对相位噪声标准产生方法，包括以下步骤：低相噪光频梳通过光学锁频方式锁定在高稳光源上；使用EDFA对低相噪光频梳输出光进行放大；提取低相噪光频梳的高频谐波序列，经光电变频生成微波载频信号；调整EDFA增益，改变电信号噪声边带的动态范围；对所述微波载频信号进行放大，生成绝对相位噪声标准信号。本申请还包含实现所述方法的绝对相位噪声标准产生装置。本申请克服宽带噪声源的平坦度差和低相噪载波源的相位噪声的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种绝对相位噪声标准产生方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325009A
申请号 ：
CN202111432911.8
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
阎栋梁柳丹
申请人 ：
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱
代理机构 ：
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
南霆
优先权 ：
CN202111432911.8
主分类号 ：
G01R1/28
IPC分类号 ：
G01R1/28 G01R29/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/22
••起电流互感器次级绕组作用的钳式测试器
G01R1/28
在测量仪器中提供基准值的设备，例如提供标准电压、标准波形
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/28
申请日 : 20211129
申请日 : 20211129
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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