一种毫米波绝对相位噪声标准的基带定标方法和装置
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种毫米波绝对相位噪声标准的基带定标方法和装置,该方法包括:将毫米波绝对相位噪声标准和信号发生器发出的波分别经过衰减器A和衰减器B之后进行混频下变频;通过上边带下变频的方式测量混频后下变频的信号的第一载波功率;通过下边带下变频的方式测量混频后下变频的信号的第二载波功率;通过上下边带下变频的方式测量噪声功率谱密度;测量底部噪声的功率谱密度;将测量所述第一载波功率、所述第二载波功率、噪声功率谱密度和功率谱密度中得到的测量值,带入基带标定方程。通过本申请解决了传统定标技术无法满足毫米波绝对相位噪声标准装置的定标需求的问题,从而定标精度高以及基带定标的动态范围大。

基本信息
专利标题 :
一种毫米波绝对相位噪声标准的基带定标方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384457A
申请号 :
CN202111672301.5
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
阎栋梁葛军柳丹孟静
申请人 :
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号12号楼
代理机构 :
中国航天科工集团公司专利中心
代理人 :
葛鹏
优先权 :
CN202111672301.5
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20211231
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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