一种芯片通用外设接口测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种芯片通用外设接口测试系统，所述系统包括PC端测试脚本、接口转换装置、网关、验证平台；其中，PC端测试脚本对接口转换装置的读、写和控制等方法以及对接口转换装置的设备管理功能；接口转换装置被配置用于驱动上行、下行接口、对上行、下行接口协议转换以及为PC端测试脚本提供接口访问RPC服务；网关被配置用于讲接口转换装置的上行接口进行入网转换；验证平台被配置用于完成对接口的配置和读写功能以及接收PC端测试脚本的测试指令或测试数据。本发明通过将不同的芯片接口转换为统一的接口，能满足现多接口、多验证平台、多测试PC统一测试和自动化测试。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片通用外设接口测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325353A
申请号 ：
CN202111436267.1
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何秋明崔健
申请人 ：
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市中国（山东）自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层
代理机构 ：
北京连和连知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈黎明
优先权 ：
CN202111436267.1
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317 G01R31/3177
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/317
申请日 : 20211129
申请日 : 20211129
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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