一种通用接口测试平台
授权
摘要

本实用新型属于电子技术领域,公开了一种通用接口测试平台,包括核心板、负载板,核心板固定在底板上,且核心板上设有若干个测试接口,测试接口包括AD隔离接口,负载板经AD隔离接口与核心板连接。负载板上设有模拟负载、采样电路、隔离运放芯片,负载板用于将待测信号采集、分压、隔离运放处理并输出模拟信号,模拟信号输入AD隔离接口,AD隔离接口将模拟信号转换为数字信号,并输送至核心板上的主控制器中,本实用新型的测试平台适用于工业、航空航天、汽车电子等领域,且测试平台上设有多数量的不同接口,使测试平台能够应用于不同的场景。

基本信息
专利标题 :
一种通用接口测试平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920981963.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-27
授权号 :
CN210514475U
授权日 :
2020-05-12
发明人 :
武斌王文龙韩志刚
申请人 :
西安晟昕科技发展有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区电子工业园电子西街3号生产力大厦B座五层
代理机构 :
西安毅联专利代理有限公司
代理人 :
杨燕珠
优先权 :
CN201920981963.2
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-05-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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