一种芯片测试用例处理方法及相关装置
公开
摘要
本申请公开了一种芯片测试用例处理方法，包括：基于预设格式和接收到的测试用例定义数据进行结构验证计划生成处理，得到结构验证计划文件；基于结构验证计划文件对接收到的测试用例数据执行管理操作，得到仿真数据；基于预设仿真流程和仿真数据执行芯片仿真操作，得到仿真结果。通过接收到的测试用例定义数据生成对应的结构验证计划文件，在此基础上，基于结构验证计划文件对接收到的测试用例数据执行管理操作，得到仿真数据，而不是通过人工的方式对测试用例进行管理，提高了对芯片测试用例进行管理的效率和效果。本申请还公开了一种芯片测试用例处理装置、服务器以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试用例处理方法及相关装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114297961A
申请号 ：
CN202111445180.0
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
丁明阳田利波
申请人 ：
山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
王晓芬
优先权 ：
CN202111445180.0
主分类号 ：
G06F30/33
IPC分类号 ：
G06F30/33
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证，例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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