基于X射线对电子产品进行扫描检测的装置
实质审查的生效
摘要
本发明基于X射线对电子产品进行扫描检测的装置，包括载物平台、位于载物平台上方的射线源、位于载物平台下方的探测器，所述射线源和探测器固定不动，所述载物平台上设有载具，所述载具上设有电子产品，所述载物平台通过X轴移动模组、Y轴移动模组、Z轴移动模组和R轴旋转模组调整电子产品的位置。本发明通过调整各轴位置使电子产品完成全方位检测，成像效果好、检测精度高。
基本信息
专利标题 ：
基于X射线对电子产品进行扫描检测的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114264679A
申请号 ：
CN202111470078.6
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2021-12-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李书浩张超
申请人 ：
俐玛精密测量技术（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区甪直镇产业路以西汇凯路以南
代理机构 ：
苏州高专知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
冷泠
优先权 ：
CN202111470078.6
主分类号 ：
G01N23/046
IPC分类号 ：
G01N23/046
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术，如计算机X光断层技术
法律状态
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/046
申请日 : 20211203
申请日 : 20211203
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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