一种SMD表晶晶体外观检测设备
公开
摘要

本发明公开了一种SMD表晶晶体外观检测设备,包括机箱和六轴工业机器人,所述六轴工业机器人输出端固定安装有夹爪,外观检测机构,所述外观检测机构包括底座和固定安装于所述底座顶端的机架,所述机架内侧通过横杆固定安装有第一视觉检测机构,所述底座顶端设置有第二视觉检测机构和夹取机构;本发明采取视觉相机来代替人工检测,结构简单,制造成本低,可有效降低工人的劳动强度,可有效降低生产成本,可以实现SMD表晶晶体外观自动检测的功能,并且通过第一视觉检测机构和第二视觉检测的配合工作,使得SMD表晶晶体的各个待检测面均能够得到外观检测,提高了检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种SMD表晶晶体外观检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295621A
申请号 :
CN202111482703.9
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄彩颖黄显林
申请人 :
深圳思博睿智能装备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区南江工业园厂房2号3层
代理机构 :
东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
丁杭静
优先权 :
CN202111482703.9
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/95  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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