系统级样品试验系统及试验方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种系统级样品试验系统及试验方法,屏蔽体用于屏蔽辐射,屏蔽体内设有试验空间,屏蔽体包括用于开启或关闭试验空间的屏蔽门体,样品位移台可移动设置,使样品位移台能够进入或离开试验空间,样品位移台包括基座、样品台及调整机构,调整机构用于调整样品台相对基座的高度。可将样品位移台置于屏蔽体外,并将样品置于样品台上固定,利用调整机构预调整样品台上样品的高度,随后可将样品位移台移动至试验空间内,样品位移台移动至试验空间内后不再调整或只需进行细微调整样品的位置,可减少操作人员及样品位移台在试验空间内的停留时间,能够减少辐射试验对人体及样品位移台的伤害,具有更好的安全性。
基本信息
专利标题 :
系统级样品试验系统及试验方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114354656A
申请号 :
CN202111486993.4
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李键坷雷志锋张战刚何玉娟彭超黄云路国光谭旭
申请人 :
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址 :
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
吴辉燃
优先权 :
CN202111486993.4
主分类号 :
G01N23/00
IPC分类号 :
G01N23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/00
申请日 : 20211207
申请日 : 20211207
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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